| 测试对象
TTL、CEL、COMS、NMOS及其他类型的MSI/LSI器件,包括微处理器、微控制器、配套的外围
品件、静态及动态RAM、PROM、EPROM和一定范围内的集成电路。
测试功能
真值表功能测试,直流参数测试
适用范围
1.半导体器件生产厂家的生产测试(中测和成测)
2.整机厂、研究单位的器件验收测试及其他各种应用测试。
*测试速率:2MHz
*测试通道数:48
*接口:具有计算机通用外设接口,串行R232通信接口,IEE-488仪器接口,
自动中测台、自动上料器接口。
*应用软件主要包括:系统的诊断、校准包;测试程序库。
BJ3140 现有测试程序
74LS系列:
00, 01, 02, 03, 04, 05, 08, 09, 10, 11, 12, 13, 15, 20,
27, 30, 32, 42, 47, 74,
75, 78a, 83a, 85, 86, 92, 93, 107, 109, 112, 113, 114,
123, 123s, 125, 126,
132, 133, 138, 139, 148, 151, 153, 155, 156, 157, 158,
161, 163, 163k, 164,
173, 174, 175, 181, 190, 193, 194, 195, 197, 221, 221s,
240, 241, 244, 245,
251, 253, 257, 258, 259, 260, 273, 279, 280, 299, 353,
367a, 373, 374, 393,
393a, 541, 574.
74S系列:
03, 05, 08, 09, 10, 11, 32, 40, 64, 86f, 114, 133, 138,
139, 151, 153, 157, 163-
2, 181, 201, 241, 244, 251, 280, 299, 373.
74系列:
00, 01, 02, 03, 04, 05, 08, 09, 10, 12, 13, 14, 16, 17,
20, 22, 23, 25, 26, 27,
28, 30, 32, 37, 38, 40, 42a, 45, 50, 53, 54, 60, 74, 75,
76, 80, 100, 107, 122, 125, 151a, 153, 154, 156, 163,
176, 182, 195, 196, 221,
251, 265, 273, 276, 278, 279, 283, 293, 298, 367.
74HC系列:
00, 04, 161, 573.
54LS系列:
02,03,04,05,08,09,10,11,12,251.
54S系列:
02, 03, 04, 05, 08, 09, 10, 11.
54HC系列:
221, 241, 393, 51, 76
4000系列:
00, 01, 02, 07ub, 08, 09ub, 10, 11, 11a, 13, 15, 17, 18,
19 20, 21, 22, 23, 24,
25, 26
其他:
8088, 8088c, 8212, 8214, 8216, 8226, 8228, 8238, 8253,
8255, 8259, 8259a, 8279,
8282, 8283, 8286, 8287, 8288, 82-c83, 6264, 8287, 2167,
2167-1, pyd76, s74138a,
s74157, s74193.
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